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掃描電鏡原位樣品臺
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SEM納米探針臺由澤攸科技研發，是一款具有高性能的科研設備，特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領域。這款探針臺不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優點，而且能夠兼容高真空環境，是掃描電鏡（SEM）的重要原位功能附件之一。通過更換不同的探針類型，如電學探針、光纖探針、納米鑷子、顯微注射器等，可以滿足各種實驗需求，實現從納米材料操縱到生物細胞DNA操作等多種應用。
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