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澤攸科技的SEM低溫/冷凍真空傳輸系統是一款專為掃描電子顯微鏡（SEM）設計的先進設備，旨在滿足在極低溫度條件下對樣品進行觀察和分析的需求，同時確保樣品能夠保持其原始狀態不受外界環境干擾。該系統集成了多種先進技術，包括獨立控制系統、獨立真空系統以及高匹配360°旋轉冷臺等，使其成為研究材料表面特性的強大工具。該系統的亮點之一是其能夠實現樣品從手套箱到聚焦離子束（FIB）真空環境之間的無縫轉移。
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