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澤攸科技ZEM18系列臺式掃描電鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM18系列采用多項自主創新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。

澤攸科技ZEM15C臺式掃描電鏡——優于10nm高性價憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。

澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。

澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。

澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該能譜掃描電鏡以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。

ZEM20臺式掃描電鏡原位拉伸一體機由澤攸科技生產，具備高分辨率和多功能特性。其加速電壓范圍為3kV至20kV，可進行1kV步進調整，最高放大倍率為36萬倍，分辨率可達5納米。該設備支持樣品臺減速模式，無需噴金即可觀察弱導電樣品，并配備有超大樣品艙，可集成多種原位拓展平臺。電子槍采用預對中鎢燈絲設計，一體化聚光鏡，無需手動調節物鏡光闌，可選配LaB6燈絲。此外，它還配備了五軸全自動樣品臺。