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產品詳情
澤攸科技臺式掃描電鏡原位拉伸一體機
產品介紹

ZEM20臺式掃描電鏡原位拉伸一體機是一款分辨率高、功能豐富的臺式掃描電鏡。采用更加寬泛的加速電壓,1KV步進,最高放大36萬倍,分辨率可達nm。在樣品臺減速模式下,弱導電樣品無需噴金也能實時觀察。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺,滿足不同實驗及檢測需求。
▲ 載荷范圍:0-1000N
▲ 位移分辨率:20nm
▲ 加熱模塊:可選
▲ 加載功能:拉伸、壓縮、三點彎曲
▲ 真空分隔技術:采用真空設計,電子槍和樣品倉真空分離,換樣時間小于1min。
▲ 超大樣品倉:提供了更大的樣品存儲空間,方便用戶操作。
▲ 超高分辨率:極限放大倍數達到36萬倍,分辨率4nm@20kV。
▲ 選配減速模式:允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。
▲ 倉內攝像頭:樣品倉內置高清攝像頭,原位實驗時可實時監測樣品原位變化。
應用案例

金顆粒150000X (左)碳納米管 20000X(右)

磷酸鐵鋰 30000X(左)二氧化硅 100000X(右)
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