產(chǎn)品中心PRODUCTS CENTER
在發(fā)展中求生存，不斷完善，以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展
首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 掃描電子顯微鏡 > 臺(tái)式掃描電鏡 > 單晶燈絲臺(tái)式掃碼電鏡
【產(chǎn)品概述】澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢(shì)，覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，例如真空分隔技術(shù)，通過電子槍與樣品倉(cāng)的真空分離設(shè)計(jì)，顯著縮短換樣時(shí)間，同時(shí)支持高真空與低真空模式。
產(chǎn)品型號(hào)：單晶燈絲 更新時(shí)間：2025-05-08訪 問 量：726廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家產(chǎn)品詳情
ZEM Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡
產(chǎn)品介紹
ZEM20pro臺(tái)式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬(wàn)倍，分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉(cāng)可集成多種原位拓展平臺(tái)，滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測(cè)需求。
產(chǎn)品特色
▲ 兼容擴(kuò)展性強(qiáng)
▲ 高性價(jià)比
▲ 多級(jí)防震
▲ 多種成像模式
▲ 高分辨觀察
▲ 易用性強(qiáng)
產(chǎn)品參數(shù)
電子槍：?jiǎn)尉艚z
探測(cè)器：二次電子探測(cè)器、四分割背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀(選配)
樣品臺(tái)：兩軸：X:60mm Y：55mm 三軸、五軸可選
樣品容納大小：XY可自由移動(dòng)：105*87*51.5mm靜止：165*122*51.5mm
XY可自由移動(dòng)：75*72.8*26.6mm靜止：165*122*26.6mm
減速模式：選配(0-10kv樣品臺(tái)電壓減速)
應(yīng)用案例
關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介新聞動(dòng)態(tài)技術(shù)文章產(chǎn)品展示
掃描電子顯微鏡欄目導(dǎo)航
產(chǎn)品中心榮譽(yù)資質(zhì)成功案例聯(lián)系我們
在線留言聯(lián)系我們
版權(quán)所有©2025 安徽澤攸科技有限公司 Al Rights Reseved 備案號(hào)：皖I(lǐng)CP備17025148號(hào)-2 Sitemap.xml 管理登陸 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)
