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澤攸科技臺式掃描電鏡ZEM18
產品介紹
澤攸科技臺式掃描電鏡ZEM18具備10M的電鏡信號采集帶寬,掃描速度極快,在視頻模式下觀察樣品無重影或拖影,確保細節清晰可見。它配備了多種探測器,包括SE探測器、BSE探測器和EDS探測器,能夠實現對樣品元素分析及形貌襯度的全面分析。該設備加速電壓范圍為3KV至18KV,配備預對中鎢燈絲和一體式聚光鏡,無需手動調節。最大樣品尺寸為φ50mm、H 35mm,支持高真空模式,抽真空時間小于90秒,還提供低真空模式選項。此外,它具有自動配置亮度、對比度和自動聚焦等功能,提供視頻模式、快掃模式和慢掃模式等多種成像選擇。
產品特點
應用領域
規格參數
放大倍數:200000
探測器:BSE,SE
燈絲材料:預對中鎢燈絲
分辨率:優于6nm
放置環境:采用專業防震設計,可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房
加速電壓:最大18kV
拓展能力:EDS、減速樣品臺、原位臺
應用案例
金顆粒150000X (左)碳納米管 20000X(右)
磷酸鐵鋰 30000X(左)二氧化硅 100000X(右)
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