原位MEMS 加熱/電學(xué)樣品桿系列

【產(chǎn)品概述】原位MEMS加熱/電學(xué)樣品桿系列是一款專(zhuān)為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具，旨在滿足納米材料、能源科學(xué)及電子器件研究領(lǐng)域?qū)υ粍?dòng)態(tài)表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿，通過(guò)集成MEMS芯片技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)的精確溫度調(diào)控和電學(xué)測(cè)量功能。在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，用戶不僅可以對(duì)樣品進(jìn)行可控加熱，還能實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)其電學(xué)特性，同時(shí)結(jié)合透射電鏡及相關(guān)附件。

產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2025-05-08
訪問(wèn) 量：3337
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品詳情

原位MEMS加熱/電學(xué)樣品桿系列

產(chǎn)品介紹

原位MEMS 加熱/電學(xué)樣品桿系列

在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿加裝芯片控制單元，通過(guò)芯片對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行溫度調(diào)控和電學(xué)測(cè)量。在進(jìn)行原位操縱的同時(shí)利用透射電鏡及相關(guān)附件實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征。該系列產(chǎn)品的分辨率指標(biāo)及漂移指標(biāo)均達(dá)到優(yōu)秀水平，并可以同時(shí)兼容EELS、EDS等附件

產(chǎn)品特色

原位加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

在樣品桿內(nèi)安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學(xué)測(cè)量芯片。微加熱芯片可對(duì)樣品進(jìn)行可控溫度的加熱，電學(xué)測(cè)量芯片可對(duì)樣品進(jìn)行電性質(zhì)測(cè)量。

本系統(tǒng)硬件包括兩部分，分別是加熱/電學(xué)測(cè)量控制器、原位MEMS芯片樣品桿，軟件包括自動(dòng)控溫軟件和自動(dòng)電學(xué)測(cè)量軟件。

1.加熱指標(biāo) 2.電學(xué)指標(biāo)

溫度控制范圍: 室溫到1200 ℃ 包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元

加熱功率:最大30 W 電壓輸出最大 ± 200 V，最小 ± 5 μV

控溫穩(wěn)定性:優(yōu)于 ± 0.1 ℃ 電流測(cè)量最大 ± 1.5 A，最小 ± 100 fA

最大升溫速率:100 °C/s 恒壓或者恒流模式

軟件控制軟件控制

3.熱電測(cè)量功能 4.TEM指標(biāo)

6電極、8電極芯片兼容電鏡型號(hào)及極靴