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PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統源于中科院物理研究所SF1組（20世紀90年代），圍繞原位電學測量樣品桿，澤攸科技不斷進行產品迭代及功能拓展，已推出電、力、光、熱、低溫等多種原位功能樣品桿，產品覆蓋國內原位電鏡市場的同時也遠銷美國、英國、德國及澳大利亞科研市場。
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PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿，基于MEMS原位芯片技術，通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片，在透射電鏡中實現對樣品加熱或加電的原位功能。
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PicoFemto系列透射電鏡原位力學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，集成力測量功能，對樣品進行壓縮/拉伸過程可實時輸出力-位移曲線，支持力-電同時測量。
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PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結合TEM+STM+MEMS原位技術，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現光、電、力、熱多種原位功能。
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原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設計的實驗工具，旨在滿足材料科學、生命科學等領域對低溫環境下樣品表征的需求。該系列產品基于標準外形的透射電鏡樣品桿，通過集成先進的液氮杜瓦等冷凍模塊，使樣品能夠在低溫環境中進行觀測，從而顯著降低電子束輻照對樣品的損傷，同時為研究材料的低溫結構和特性提供了理想的條件。澤攸科技憑借其真空導冷和低溫絕熱技術，確保了系統的性能。
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原位MEMS加熱/電學樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設計的實驗工具，旨在滿足納米材料、能源科學及電子器件研究領域對原位動態表征的需求。該系列產品基于標準外形的透射電鏡樣品桿，通過集成MEMS芯片技術，實現了對單個納米結構的精確溫度調控和電學測量功能。在實驗過程中，用戶不僅可以對樣品進行可控加熱，還能實時監測其電學特性，同時結合透射電鏡及相關附件。
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