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澤攸科技位移臺作為國產精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅動技術實現了亞納米級運動精度與宏觀行程的突破性結合，解決了傳統設備在分辨率和行程范圍上的技術瓶頸。其核心設計采用高剛性柔性鉸鏈導向系統，兼具結構緊湊、真空兼容、寬溫區穩定運行等特性，可在低溫至室溫環境中保持優異性能。該產品系列通過模塊化設計支持定制化需求，廣泛應用于半導體檢測、生物顯微操作、光刻機工件臺定位等領域。

澤攸科技位移臺作為國產精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅動技術實現了亞納米級運動精度與宏觀行程的突破性結合，解決了傳統設備在分辨率和行程范圍上的技術瓶頸。其核心設計采用高剛性柔性鉸鏈導向系統，兼具結構緊湊、真空兼容、寬溫區穩定運行等特性，可在低溫至室溫環境中保持優異性能。該產品系列通過模塊化設計支持定制化需求，廣泛應用于半導體檢測、生物顯微操作、光刻機工件臺定位等領域。

澤攸科技位移臺作為國產精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅動技術實現了亞納米級運動精度與宏觀行程的突破性結合，解決了傳統設備在分辨率和行程范圍上的技術瓶頸。其核心設計采用高剛性柔性鉸鏈導向系統，兼具結構緊湊、真空兼容、寬溫區穩定運行等特性，可在低溫至室溫環境中保持優異性能。該產品系列通過模塊化設計支持定制化需求，廣泛應用于半導體檢測、生物顯微操作、光刻機工件臺定位等領域。

澤攸科技的SEM低溫/冷凍真空傳輸系統是一款專為掃描電子顯微鏡（SEM）設計的先進設備，旨在滿足在極低溫度條件下對樣品進行觀察和分析的需求，同時確保樣品能夠保持其原始狀態不受外界環境干擾。該系統集成了多種先進技術，包括獨立控制系統、獨立真空系統以及高匹配360°旋轉冷臺等，使其成為研究材料表面特性的強大工具。該系統的亮點之一是其能夠實現樣品從手套箱到聚焦離子束（FIB）真空環境之間的無縫轉移。

PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學樣品臺是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機制研究的科研設備。該系統作為一款集成化的解決方案，能夠精確量化微納米級材料的力學特性，并通過與掃描電鏡(SEM)結合使用，實現對材料在不同應力狀態下的原位觀測。這使得研究人員能夠在納米尺度上觀察到材料內部結構的變化，為深入理解材料的本質提供了有力支持。

PicoFemto掃描電鏡原位拉伸臺集成了力學拉伸模塊以及高溫環境模塊，可以實現在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。本產品采用新一代的高溫拉伸方案，加熱臺直接貼緊樣品，保證了溫度的準確度和穩定性。