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SEM納米力測量系統

【產品概述】PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學樣品臺是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機制研究的科研設備。該系統作為一款集成化的解決方案,能夠精確量化微納米級材料的力學特性,并通過與掃描電鏡(SEM)結合使用,實現對材料在不同應力狀態下的原位觀測。這使得研究人員能夠在納米尺度上觀察到材料內部結構的變化,為深入理解材料的本質提供了有力支持。

  • 產品型號:NI-100
  • 更新時間:2025-05-08
  • 訪  問  量:453
  • 廠商性質:生產廠家

產品詳情

SEM納米力測量系統

產品介紹

SEM納米力測量系統

產品特色

▲ 易用性強

▲ 兼容擴展性強

▲ 加熱,光學等多種模塊可選

▲ 閉環高精度、大量程力學測量

▲ 閉環納米尺度微動臺控制,位移更加精確

▲ 壓痕、劃痕、壓縮等多種模式可選

▲ 超高穩定性,輕松獲得高質量原位視頻


技術參數

功能:壓痕,壓縮,拉伸

載荷量程:100mN

力傳感分辨率:10uN

響應時間:50ms

微調臺X/Y;模式:閉環控制  行程:100(±20)um  精度:20nm

粗調臺X/Y/Z;模式:開環控制  行程:XY軸±10mm、Z軸行程10mm  最小步長:≤1nm

標準納米力臺尺寸:130*65*55mm

裸臺重量:約300g(壓痕)

樣品尺寸:≤30*30mm

選配模塊:加熱(最高400℃)、加電


應用案例

納米力臺拉伸過程(左) 納米力臺壓縮過程(右)


納米力臺微球壓碎過程



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