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PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿，基于MEMS原位芯片技術，通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片，在透射電鏡中實現對樣品加熱或加電的原位功能。
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澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術的創新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學研究提供了全新的視角和手段。該系列產品將掃描探針控制單元巧妙集成于標準外形的透射電鏡樣品桿中，能夠在透射電鏡腔體內實現對單個納米結構的精確操縱與電學測量。通過這一系統，研究人員不僅可以實時動態地觀察樣品的晶體結構、化學組分和元素價態的變化，還可以在多種外場環境下進行多維度的原位表征。
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